X-ray Spectrometry (LAB)

신제품X-ray Spectrometry (LAB)
제품코드	G021337
판매가격	가격협의
제품분류	측정/계측/검사/시험기 > 검사.시험기.계측기 기타
제품사양	하단표기
모델명	Software
제조사	브루커코리아
판매지역	전국
거래방식	직거래
제조년도	2013 년
A/S여부	가능
설치 및 시운전	가능
세금계산서	가능
제조국가	-

제품 QR코드

등록자정보

회사명	브루커코리아	담당자	브루커코리아
전화번호	031-716-5698	휴대전화	***
이메일	info@bruker.kr	홈페이지	http://www.bruker.kr
주소	경기도 성남시 분당구 성남대로331번길 8 (정자동, 분당인텔리지1) 킨스타워 15층 클라이브하우워드세이무어	제품홍보관	http://blog.yeogie.com/bruker

제품상세정보

Software Solutions for X-ray Fluorescence

BRUKER AXS는 x-ray 형광분석기X-ray fluorescence Analysis (XRF)를 위한 진보된 소프트웨어 솔루션을 제공하여 S4 series (WDXRF) 와S2 RANGER (EDXRF) 의 x-ray 형광분석기가 최대 분석 성능을 달성하고 모든 종류의 분석 작업을 수행할 수 있도록 합니다.
 

SPECTRAplus and SPECTRA EDX:
에너지 분산형, 파장 분산형 x-ray 형광분석기를 위하여 최대한의 성분분석성능을 보장해주는 사용하기 쉬운 소프트웨어 솔루션

ML plus:
X-ray 형광분석 X-ray fluorescence Analysis (XRF) 에 의한 연구와 생산 분야의 advanced multilayer, thin film 분석
 

ARTAXControl:
빠르고 쉬운 utilization을 위한 관리와 평가 소프트웨어

SPECTRAplus and SPECTRA EDX - X-ray fluorescence analysis (XRF) the easy way

일상적인 분석 작업뿐 아니라 가장 까다로운 응용분야를 위한 지적인 분석 작업의 극대화에 이르기까지 매우 유연한 분석이 가능합니다. 뛰어난 x-ray 형광분석 성능은 SPECTRAplus and SPECTRA EDX로 인하여 손쉽게 이루어집니다. 빠른 point-and-click작동에서부터 multitasking까지 현대 소프트웨어의 모든 장점을 제공하는 정량, 정성분석을 위한 완벽한 소프트웨어 패키지가 그 특징입니다. 또한 표준화된 look-and-feel과 광범위한 도움말 파일로 사용자는 장비를 처음부터 사용하기 쉬워 최소 트레이닝으로 간단하고 빠른 작동이 가능합니다.
 

GLP (Good Laboratory Practice)규정에 따라, SPECTRAplus 와 SPECTRA EDX의 통합된 "Daily-Check-Routine" 는 간단하며 정기적 장비 검사를 제공하기도 합니다.

 

Standardless Analysis by X-ray fluorescence (XRF) - Totally integrated for a maximum of analytical support

X-ray fluorescence analysis (XRF) 의 중요한 장점인 standardless 분석은 calibration작업 없이 화학제품의 쉽고 빠른 측정을 가능하게 합니다. 다양한 alphas에 기인한 강력한 매트릭스 보정으로 샘플 preparation에 사용된 종류에 상관없이 모든 종류의 샘플은 화학제품을 위한 최적의 측정 파라미터로 분석이 가능합니다. SPECTRAplus 와 SPECTRA EDX를 갖춘 standardless 분석은 다양한 분야에 적용이 가능합니다: 분석 목표값을 설정함으로써 빠른 스캔 모드에 의한 신속한 측정이 가능하며 향상된 정확성과 정밀성을 보장합니다. .
SPECTRAplus 와 SPECTRA EDX 에서 standardless calibration은 분석작업의 최고 성능을 위해 완벽히 통합하여 작용합니다. 최적화된 측정 조건은 모든 각각의 원소를 위하여 제공되며 recommended line overlay와 overlay factors가 가능합니다. 어떠한 standard도 존재하지 않는 성분의 확실한 분석을 위하여 standardless calibration parameters가 사용자의 특정 calibration속에 통합될 수 있다는 것은 이 장비의 가장 중요한 장점이라고 할 수 있습니다

 

MLplus - Multilayer and Thin Film analysis by XRF

multilayer 샘플의 화학적 성분과 층의 두께는 X-ray fluorescence analysis (XRF)으로 쉽게 분석됩니다. 다층 sample은 곧바로 파장분산형x-ray 형광분석기 wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometers (WDXRF) S4 PIONEER 혹은 S4 EXPLORER에서 분석됩니다.
 

MLplus는 파장 분산형 X-ray 형광분석X-ray fluorescence analysis (WDXRF)으로 단층 혹은 다층 샘플 분석을 위한 SPECTRAplus기능을 확장합니다.
 

MLplus 는 모든 산출에 대하여 완전히 기본적인 파라미터로 접근하며 두께와 성분의 측정은 SPECTRAplus의 standardless calibration으로 가능합니다.
 

MLplus 각각의 single measurement가 한번 모델을 설정한 후에는, MLplus 는 자동 측정을 위하여 사용되기도 합니다. 이러한 기능으로 MLplus 는 다층 유리, 코팅 강철 생산의 공정 관리를 위하여 다층 분석을 이루어냅니다.
 

ARTAXControl

ARTAX의 관리 및 측정 소프트웨어는 빠르고 쉬운 사용이 그 특징입니다. Measuring head, 비디오 영상 캡처 및 편집의 정확한 조정을 위한 모든 기능과 원소 분석 결과는 효과적으로 잘 결합되어 인공지능적인 장비 가동이 가능합니다. 이러한 소프트웨어의 모듈방식과 계층 구조로 인하여ARTAX는 일상적인 어플리케이션과 매우 까다로운 과학 연구 분야에 모두 적합합니다.
 

이러한 소프트웨어의 모듈방식과 계층 구조로 인하여ARTAX는 일상적인 어플리케이션과 매우 까다로운 과학 연구 분야에 모두 적합합니다.

 

ARTAX Line Scan / Mapping

ARTAX는 자동으로 line scan이나 area scan이 가능합니다. 자동화된 XYZ drive는 모든 방향으로 50 mm의 최대 스캔 면적을 제공합니다.
 

 Scan software는 다음과 같은 특징을 있습니다:
- 비디오 기능을 갖춘 1차원, 2차원 스캔의 상호 검사
- 체계적인 자동화 측량 및 평가 전략
- 추후 공정을 위한 모든 데이터베이스 저장
- 이미지, 스펙트럼, 측정 결과를 위한 다양한 옵션 기능

ARTAXQuant

ARTAXQuant는 표준 비교 방식을 이용하여 multi-point measurements (scans) 뿐 아니라 single point measurements을 위한 성분 내용의 정량이 가능합니다. 이러한 방식은 이미 구성성분을 알고 있는 표준 샘플에 수행된 분석의 결과를 토대로 진행됩니다. 이러한 정량분석결과는 calibration 조정에 따라 특정 샘플 calibration 곡선을 만들어냅니다.

※ 출처 : 여기에 기계플라자 - [G021337] X-ray Spectrometry (LAB)